モノクロメーター: Si 111 channel / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9798 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.7→50 Å / Num. all: 65867 / Num. obs: 64965 / % possible obs: 98.63 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 4.8 % / Biso Wilson estimate: 20.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.105 / Net I/σ(I): 15.3
反射 シェル
解像度: 1.7→1.744 Å / 冗長度: 4.2 % / Rmerge(I) obs: 0.371 / Mean I/σ(I) obs: 2.47 / Num. unique all: 5132 / % possible all: 93.61
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0019
精密化
SBC-Collect
データ収集
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
HKL-3000
位相決定
SHELXE
モデル構築
SOLVE
位相決定
RESOLVE
位相決定
ARP/wARP
モデル構築
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.7→38.38 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.95 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.919 / SU B: 4.788 / SU ML: 0.084 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / ESU R: 0.123 / ESU R Free: 0.126 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASES 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.247
3482
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.19455
-
-
-
all
0.19717
64965
-
-
obs
0.19717
64965
98.63 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 20.192 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
1.11 Å2
0 Å2
-1.11 Å2
2-
-
-1.89 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.76 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.126 Å
0.123 Å
Luzzati d res low
-
6 Å
Luzzati sigma a
0.5 Å
0.084 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 1.7→38.38 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
5067
0
0
557
5624
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.015
0.022
5182
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.002
0.02
3579
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.41
1.915
6988
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.973
3
8564
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
5.929
5
635
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
34.571
22.971
276
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
13.961
15
828
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
16.135
15
52
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.083
0.2
713
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.007
0.02
5934
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
1202
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.236
0.2
1212
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.203
0.2
3661
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.189
0.2
2552
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.085
0.2
2649
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.151
0.2
399
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.244
0.2
17
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.297
0.2
97
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.157
0.2
44
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.285
1.5
3882
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.266
1.5
1318
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.5
2
5010
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.467
3
2316
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
3.416
4.5
1978
LS精密化 シェル
解像度: 1.7→1.744 Å / Total num. of bins used: 20
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.269
251
-
Rwork
0.222
4553
-
obs
-
4553
93.61 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 48.652 Å / Origin y: 5.296 Å / Origin z: 96.292 Å