ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB d*TREK9.4LDzデータスケーリング Show SOLVE2.09 位相決定 Show RESOLVE2.09 位相決定 Show REFMAC精密化 Show PDB_EXTRACT2 データ抽出 Show d*TREKデータ削減
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 2→47.23 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.953 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.932 / SU B : 6.785 / SU ML : 0.109 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.184 / ESU R Free : 0.161 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.224 1724 5 % RANDOM Rwork 0.181 - - - all 0.183 3361 - - obs 0.181 34245 99.43 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 22.739 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.63 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.32 Å2 0 Å2 3- - - -0.31 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→47.23 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3729 0 12 283 4024
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 25) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.01 0.022 3874 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 3337 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.179 1.952 5260 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.8 3 7817 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.749 5 492 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.916 25.67 194 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.116 15 658 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg20.197 15 12 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.07 0.2 560 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 4398 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 766 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.211 0.2 805 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.169 0.2 3194 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.178 0.2 1889 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.079 0.2 2054 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.154 0.2 232 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.219 0.2 2 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.165 0.2 3 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.163 0.2 15 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.135 0.2 7 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.478 1.5 2437 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.113 1.5 978 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.768 2 3811 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.29 3 1651 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.9 4.5 1439
LS精密化 シェル 解像度 : 2→2.05 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.247 122 - Rwork 0.201 2190 - obs - 2312 92.67 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.8938 -0.2273 -0.2106 1.0961 0.1254 1.7675 0.0212 -0.0379 -0.0353 0.0605 0.014 0.1645 0.0238 -0.2168 -0.0352 -0.1412 -0.0123 -0.002 -0.0868 0.0222 -0.0758 35.6893 53.5231 23.4711 2 1.0562 0.2323 -0.2623 1.3812 0.0998 1.8748 -0.0471 -0.0335 -0.1324 -0.0538 0.0356 -0.1192 0.1749 0.271 0.0115 -0.1009 0.026 -0.0142 -0.1072 0.0039 -0.0654 54.8199 42.1122 12.6607
精密化 TLSグループ Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Selection : ALL / Auth seq-ID : 14 - 250 / Label seq-ID : 14 - 250
ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID 1 1 AA2 2 BB