ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB HKLdata processingShow SHARP位相決定 Show 直接法5 位相決定 Show REFMAC5.2.0005精密化 Show PDB_EXTRACT2 データ抽出 Show HKL-2000データ削減 HKLデータスケーリング PHENIX(HYSS)位相決定 ARP/wARPモデル構築
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.92→40.612 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.922 / WRfactor Rfree : 0.255 / WRfactor Rwork : 0.207 / SU B : 6.887 / SU ML : 0.104 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.157 / ESU R Free : 0.149 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.235 1998 5.024 % RANDOM Rwork 0.19 - - - all 0.192 - - - obs 0.192 39773 97.423 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK BULK SOLVENT原子変位パラメータ Biso mean : 8.556 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.771 Å2 0 Å2 -0.37 Å2 2- - -0.237 Å2 0 Å2 3- - - -0.537 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.92→40.612 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3437 0 2 418 3857
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.022 3533 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.357 1.973 4763 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.853 5 429 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg37.124 24.696 181 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.162 15 687 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg21.682 15 26 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.098 0.2 537 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 2636 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.209 0.2 1838 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.301 0.2 2491 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.179 0.2 334 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.135 0.2 2 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.337 0.2 66 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.213 0.2 22 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.71 1.5 2190 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.1 2 3420 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.001 3 1513 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.991 4.5 1341
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 1715 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position MEDIUM POSITIONAL0.27 0.5 MEDIUM THERMAL0.52 2
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used : 20
大きな表を表示 (7 x 20) 大きな表を隠す 解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Num. reflection all % reflection obs (%)1.92-1.969 0.277 120 0.231 2729 2989 95.316 1.969-2.023 0.255 140 0.204 2705 2927 97.198 2.023-2.082 0.257 136 0.207 2619 2845 96.837 2.082-2.146 0.279 124 0.192 2543 2778 96.004 2.146-2.216 0.225 123 0.19 2416 2608 97.354 2.216-2.294 0.28 137 0.187 2401 2623 96.759 2.294-2.381 0.253 126 0.193 2263 2480 96.331 2.381-2.478 0.25 108 0.195 2195 2385 96.562 2.478-2.588 0.253 122 0.199 2152 2351 96.725 2.588-2.714 0.236 103 0.208 2035 2213 96.611 2.714-2.861 0.24 116 0.193 1943 2108 97.676 2.861-3.035 0.262 102 0.187 1817 1972 97.312 3.035-3.244 0.225 96 0.193 1772 1896 98.523 3.244-3.504 0.194 67 0.176 1666 1746 99.255 3.504-3.838 0.255 82 0.173 1529 1615 99.752 3.838-4.291 0.216 89 0.169 1374 1463 100 4.291-4.954 0.197 82 0.164 1228 1310 100 4.954-6.066 0.241 47 0.198 1076 1123 100 6.066-8.572 0.25 43 0.221 838 881 100 8.572-40.612 0.158 35 0.199 474 512 99.414