ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 d*TREKデータ削減 AMoRE位相決定 REFMAC5.1.19精密化 CrystalClearデータ削減 d*TREKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1SC3解像度 : 2.1→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.946 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.929 / SU B : 5.829 / SU ML : 0.148 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.232 / ESU R Free : 0.191 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.258 1009 5.1 % RANDOM Rwork 0.227 - - - all 0.22843 19871 - - obs 0.228 18692 99.1 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 32.32 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.42 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 1.42 Å2 0 Å2 3- - - -2.84 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2069 0 0 160 2229
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.005 0.021 2111 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.822 1.96 2843 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.524 5 255 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.051 0.2 318 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.002 0.02 1567 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.145 0.2 991 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.071 0.2 135 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.104 0.2 68 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.077 0.2 22 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.096 2.5 1286 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.969 5 2086 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.014 2.5 825 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it1.654 5 757 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.17 Å / Total num. of bins used : 15 / Rfactor 反射数 Rfree 0.433 93 Rwork 0.36 1745
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 45.7998 Å / Origin y : 62.5619 Å / Origin z : -5.83 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0949 Å2 -0.0155 Å2 -0.0135 Å2 - 0.0904 Å2 0.0292 Å2 - - 0.0608 Å2 L 0.7698 °2 0.0447 °2 0.4407 °2 - 0.495 °2 -0.4628 °2 - - 2.2537 °2 S -0.0402 Å ° 0.0544 Å ° -0.0273 Å ° 0.0705 Å ° 0.0526 Å ° 0.0438 Å ° -0.2432 Å ° -0.1844 Å ° -0.0124 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA125 - 145 6 - 26 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA149 - 297 30 - 178 3 X-RAY DIFFRACTION 1 BB317 - 404 1 - 88 4 X-RAY DIFFRACTION 1 AC1