ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 d*TREKデータ削減 AMoRE位相決定 REFMAC5.1.19精密化 CrystalClearデータ削減 d*TREKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1SC3解像度 : 1.8→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.953 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.937 / SU B : 3.607 / SU ML : 0.102 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.133 / ESU R Free : 0.124 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.236 1508 5 % RANDOM Rwork 0.208 - - - all 0.20981 31366 - - obs 0.21 28476 95.6 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 26.39 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.88 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.88 Å2 0 Å2 3- - - -1.77 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.8→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2053 0 0 229 2282
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.006 0.021 2096 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.301 1.962 2823 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.013 5 253 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.081 0.2 318 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.002 0.02 1555 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.159 0.2 1010 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.082 0.2 189 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.126 0.2 68 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.11 0.2 32 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.229 2.5 1275 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.156 5 2070 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.367 2.5 821 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.2 5 753 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.8→1.86 Å / Total num. of bins used : 15 / Rfactor 反射数 Rfree 0.378 117 Rwork 0.367 2185
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 45.4918 Å / Origin y : 62.2941 Å / Origin z : -5.8315 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0174 Å2 -0.0017 Å2 -0.0066 Å2 - 0.0175 Å2 0.014 Å2 - - 0.0172 Å2 L 0.3083 °2 -0.0395 °2 0.3049 °2 - 0.2967 °2 -0.3892 °2 - - 0.9101 °2 S -0.0301 Å ° 0.0203 Å ° -0.0349 Å ° 0.0355 Å ° 0.0552 Å ° 0.0073 Å ° -0.1362 Å ° -0.099 Å ° -0.0251 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA125 - 144 6 - 25 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA150 - 297 31 - 178 3 X-RAY DIFFRACTION 1 BB317 - 404 1 - 88 4 X-RAY DIFFRACTION 1 AC1