ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 BOSデータ収集 d*TREKデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.7→19.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 457952.91 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.242 1530 7.2 % RANDOM Rwork 0.195 - - - all 0.233 21383 - - obs 0.231 21203 99.2 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 45.6037 Å2 / ksol : 0.351368 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 27.8 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.66 Å2 0 Å2 -1.69 Å2 2- - -3.36 Å2 0 Å2 3- - - -0.3 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.26 Å 0.2 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.19 Å 0.15 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→19.97 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 1422 97 353 1872
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.017 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.9 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d20.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.88 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.7→1.81 Å / Rfactor Rfree error : 0.02 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.327 273 7.9 % Rwork 0.269 3191 - obs - - 98.2 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 water_rep.paramwater_rep.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep_revise.param dna-rna_rep_revise.top X-RAY DIFFRACTION 3 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 4 cohex_rep.paramcohex_rep.topX-RAY DIFFRACTION 5 acetate.paramacetate.top