ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 2E6C解像度 : 2.5→45.63 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 2100700.89 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.288 1494 5 % RANDOM Rwork 0.222 - - - obs 0.222 30178 95.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 38.9254 Å2 / ksol : 0.355924 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 38.3 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 9.51 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -5.35 Å2 0 Å2 3- - - -4.16 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.42 Å 0.3 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.38 Å 0.21 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.5→45.63 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6659 0 0 78 6737
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.011 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.7 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d25.6 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.18 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it2.23 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it3.56 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it3.17 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it4.45 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.5→2.66 Å / Rfactor Rfree error : 0.022 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.338 227 5.3 % Rwork 0.247 4096 - obs - - 83.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 cis_peptide.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAM