プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.931 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→40 Å / Num. obs: 29411 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 4.4 % / Rmerge(I) obs: 0.11 / Net I/σ(I): 12.1
反射 シェル
解像度: 2.1→2.21 Å / 冗長度: 4.5 % / Rmerge(I) obs: 0.41 / Mean I/σ(I) obs: 3 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0005
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.1→40 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.945 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.923 / SU B: 4.733 / SU ML: 0.128 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.224 / ESU R Free: 0.183 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.235
1496
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.198
-
-
-
obs
0.2
27870
99.8 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK