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基本情報
| 登録情報 | データベース: PDB / ID: 28dn | ||||||||||||||||||
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| タイトル | CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS OF AN A(DNA) OCTAMER D(GTACGTAC) | ||||||||||||||||||
要素 | DNA (5'-D(* キーワードDNA / A-DNA / DOUBLE HELIX | 機能・相同性 | DNA | 機能・相同性情報手法 | X線回折 / 解像度: 2.4 Å データ登録者Courseille, C. / Dautant, A. / Hospital, M. / Langlois D'Estaintot, B. / Precigoux, G. / Molko, D. / Teoule, R. | 引用ジャーナル: Acta Crystallogr.,Sect.A / 年: 1990 | タイトル: Crystal Structure Analysis of an A(DNA) Octamer d(GTACGTAC) 著者: Courseille, C. / Dautant, A. / Hospital, M. / Langlois D'Estaintot, B. / Precigoux, G. / Molko, D. / Teoule, R. 履歴 |
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構造の表示
| 構造ビューア | 分子: Molmil Jmol/JSmol |
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ダウンロードとリンク
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ダウンロード
| PDBx/mmCIF形式 | 28dn.cif.gz | 14.1 KB | 表示 | PDBx/mmCIF形式 |
|---|---|---|---|---|
| PDB形式 | pdb28dn.ent.gz | 8.3 KB | 表示 | PDB形式 |
| PDBx/mmJSON形式 | 28dn.json.gz | ツリー表示 | PDBx/mmJSON形式 | |
| その他 | その他のダウンロード |
-検証レポート
| 文書・要旨 | 28dn_validation.pdf.gz | 364 KB | 表示 | wwPDB検証レポート |
|---|---|---|---|---|
| 文書・詳細版 | 28dn_full_validation.pdf.gz | 366.8 KB | 表示 | |
| XML形式データ | 28dn_validation.xml.gz | 3.6 KB | 表示 | |
| CIF形式データ | 28dn_validation.cif.gz | 4.4 KB | 表示 | |
| アーカイブディレクトリ | https://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/8d/28dn ftp://data.pdbj.org/pub/pdb/validation_reports/8d/28dn | HTTPS FTP |
-関連構造データ
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リンク
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集合体
| 登録構造単位 | ![]()
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| 1 | ![]()
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| 単位格子 |
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| Components on special symmetry positions |
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要素
| #1: DNA鎖 | 分子量: 2426.617 Da / 分子数: 1 / 由来タイプ: 合成 |
|---|---|
| #2: 水 | ChemComp-HOH / |
-実験情報
-実験
| 実験 | 手法: X線回折 |
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試料調製
| 結晶 | マシュー密度: 2.31 Å3/Da / 溶媒含有率: 46.67 % | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 結晶化 | 温度: 293 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / pH: 6 詳細: pH 6.00, VAPOR DIFFUSION, SITTING DROP, temperature 293.00K | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 |
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| 結晶化 | *PLUS 温度: 293 K / pH: 6 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 溶液の組成 | *PLUS
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-データ収集
| 回折 | 平均測定温度: 279 K |
|---|---|
| 検出器 | タイプ: NICOLET / 検出器: DIFFRACTOMETER |
| 放射 | 散乱光タイプ: x-ray |
| 放射波長 | 相対比: 1 |
| 反射 | 最高解像度: 2.4 Å / Num. all: 2682 / Num. obs: 894 / Observed criterion σ(I): 1 |
| 反射 | *PLUS 最高解像度: 2.4 Å / Observed criterion σ(I): 1 / Num. measured all: 2682 / Rmerge(I) obs: 0.055 |
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解析
| ソフトウェア | 名称: X-PLOR / 分類: 精密化 | ||||||||||||
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| 精密化 | 最高解像度: 2.4 Å / σ(I): 1 /
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| Refine Biso |
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 最高解像度: 2.4 Å
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| 精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.4 Å | ||||||||||||
| 溶媒の処理 | *PLUS | ||||||||||||
| 原子変位パラメータ | *PLUS |
ムービー
コントローラー
万見について




X線回折
引用









PDBj




