ソフトウェア 名称 分類 X-PLOR精密化 R-AXISデータ削減 AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : STANDARD A-FORM DUPLEX AND ARL048
解像度 : 2.3→8 Å / Num. restraintsaints : 22 / 交差検証法 : FREE-R / σ(F) : 3 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.198 138 10 % RANDOM Rwork 0.186 - - - obs 0.186 1502 - -
原子変位パラメータ Biso mean : 23.64 Å2 Refine Biso クラス Refine-ID 詳細 Treatment ALL ATOMSX-RAY DIFFRACTION TRisotropicALL WATERSX-RAY DIFFRACTION TRisotropic
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.3 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.3→8 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 258 1 18 277
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.02 X-RAY DIFFRACTION x_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION x_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.15 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_mcbond_it1.3 X-RAY DIFFRACTION x_mcangle_it1.7 X-RAY DIFFRACTION x_scbond_itX-RAY DIFFRACTION x_scangle_it
ソフトウェア *PLUS
名称 : X-PLOR / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最高解像度 : 2.3 Å / 最低解像度 : 8 Å / σ(F) : 3 / % reflection Rfree : 10 % / Rfactor Rfree : 0.218 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
タイプ : x_angle_deg / Dev ideal : 1.1