ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0005精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング SOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.5→20.261 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.927 / SU B : 3.181 / SU ML : 0.06 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.095 / ESU R Free : 0.095 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25071 929 5.1 % RANDOM Rwork 0.22028 - - - all 0.22192 17871 - - obs 0.22028 17235 96.44 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 25.229 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.12 Å2 0 Å2 0.14 Å2 2- - 0.61 Å2 0 Å2 3- - - -0.67 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→20.261 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 870 0 15 98 983
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 31) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 0.022 956 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.468 1.975 1296 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.706 5 129 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.836 26.25 40 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.719 15 188 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg4.344 15 1 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.106 0.2 145 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.007 0.02 700 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.205 0.2 436 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.315 0.2 656 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.125 0.2 70 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.256 0.2 49 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.098 0.2 15 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.079 1.5 601 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.556 2 943 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.42 3 408 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.452 4.5 343 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.5→1.539 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.32 67 - Rwork 0.238 1314 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.2628 -0.2855 0.4173 1.3873 0.675 0.5702 -0.0366 -0.0842 -0.0372 0.1093 0.0804 0.0762 0.0482 0.0565 -0.0438 -0.0131 0.0172 0.0142 -0.0237 0.0077 -0.053 26.5361 42.1935 2.9441 2 299.8457 209.2428 -219.7288 194.8876 -102.2383 214.4418 -0.4287 -1.2033 -0.3939 0.9776 0.2534 0.6697 1.5864 2.172 0.1752 0.0206 -0.0176 -0.0125 0.0094 0.0212 0.0048 22.1241 42.0217 6.9394
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA33 - 142 6 - 115 2 X-RAY DIFFRACTION 2 AC150