ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0005精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 1TZA解像度 : 2.01→48 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.959 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.902 / SU B : 10.769 / SU ML : 0.153 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.194 / ESU R Free : 0.2 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.26585 931 5.1 % RANDOM Rwork 0.17997 - - - all 0.18426 17250 - - obs 0.18426 17250 93.77 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 26.312 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 5.21 Å2 0 Å2 3.77 Å2 2- - -2.22 Å2 0 Å2 3- - - 2.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.01→48 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1972 0 6 248 2226
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 31) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.038 0.022 2013 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.749 1.965 2731 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.36 5 246 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg34.697 25.102 98 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg18.698 15 350 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg25.197 15 12 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.212 0.2 310 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.014 0.02 1524 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.284 0.2 938 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.329 0.2 1369 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.229 0.2 209 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.226 0.2 61 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.213 0.2 17 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.79 1.5 1280 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.558 2 2018 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it5.093 3 844 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it7.326 4.5 713 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.01→2.062 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.325 43 - Rwork 0.213 935 - obs - - 69.02 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2741 0.2395 -0.6209 1.2741 -0.7871 1.4625 0.0164 -0.0333 0.0473 -0.1175 0.0284 -0.1215 0.0958 -0.0168 -0.0447 0.0727 0.0045 0.0728 -0.009 -0.0042 0.0269 23.577 0.873 1.378 2 1.3723 1.0092 -0.4441 1.3035 -0.3143 0.144 -0.0121 0.0018 0.1329 -0.0248 0.0294 0.047 0.0444 0.001 -0.0173 -0.0165 -0.0081 0.0053 0.0195 -0.0007 0.0128 2.738 2.489 24.88
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA1 - 124 1 - 124 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB1 - 124 1 - 124