ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 HKL-2000データ削減 SCALEPACKデータスケーリング SOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 2→19.99 Å / Rfactor Rfree error : 0.002 / Data cutoff high absF : 3315974.62 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.218 10787 10 % RANDOM Rwork 0.188 - - - all 0.192 - - - obs 0.188 107633 98.3 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 19.4946 Å2 / ksol : 0.323262 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 15.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.1 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.44 Å2 0 Å2 3- - - 0.54 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.24 Å 0.2 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.13 Å 0.08 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→19.99 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 10150 0 0 1018 11168
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d24.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.06 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.15 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.65 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.03 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.02 2.5
Refine LS restraints NCS NCS model details : CONSTRLS精密化 シェル 解像度 : 2→2.13 Å / Rfactor Rfree error : 0.005 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.225 1811 10.2 % Rwork 0.188 15903 - obs - - 98 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER.PARAMWATER.TOP