ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.1.24精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング BEAST位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1KHV解像度 : 2.17→35.58 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.937 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.893 / SU B : 5.954 / SU ML : 0.155 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / Isotropic thermal model : isotropic / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R : 0.269 / ESU R Free : 0.221 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD詳細 : TLS refinement was performed for each of three domains in each protomer.Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25552 2892 5 % RANDOM Rwork 0.19412 - - - obs 0.19716 54384 95.1 % - all - 54384 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 21.047 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.02 Å2 0.71 Å2 -0.94 Å2 2- - -0.08 Å2 -1.65 Å2 3- - - -0.31 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.17→35.58 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 7887 0 0 434 8321
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.021 8091 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.022 1.963 10977 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.262 5 1003 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.073 0.2 1189 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 6130 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.192 0.2 3746 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.12 0.2 505 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.129 0.2 60 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.125 0.2 14 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.179 2 5027 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.925 2.5 8138 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.998 3.5 3064 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.182 4.5 2839
LS精密化 シェル 解像度 : 2.17→2.226 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.303 183 - Rwork 0.215 3719 - obs - 3719 87 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.4037 -0.1434 -0.2254 0.4128 0.0906 1.5709 -0.0352 -0.0197 -0.021 0.0167 0.0726 -0.0788 0.1756 0.1873 -0.0374 0.0596 0.0359 0.0014 0.0407 0.0034 0.0816 -21.1411 9.6789 19.7073 2 3.0117 -0.4155 1.5007 1.9927 0.0703 2.4219 -0.1475 0.0932 0.353 -0.1844 0.0738 -0.1691 -0.3504 0.153 0.0737 0.0574 -0.0131 0.0176 0.0036 -0.009 0.0442 -30.0176 31.39 26.289 3 2.5541 -2.1778 -1.6558 3.2639 2.0833 1.9297 0.0102 0.2221 -0.2114 -0.0146 -0.2515 0.3611 0.0396 -0.282 0.2414 0.0794 -0.0065 -0.0042 0.0875 0.0323 0.118 -38.8658 24.0323 -0.6913 4 0.6843 0.1713 0.637 0.1778 0.201 2.3575 -0.1776 0.0767 0.1998 -0.0803 -0.0117 -0.0105 -0.4084 0.1853 0.1892 0.1058 -0.0399 -0.0267 0.0686 0.0295 0.1075 6.741 31.4093 60.3983 5 2.486 0.3839 -1.7956 1.6294 0.3863 3.3188 -0.0991 -0.2207 -0.2941 0.2157 -0.0081 -0.0866 0.4712 0.0705 0.1072 0.0988 0.0018 -0.002 0.0825 -0.0079 0.0591 -2.2681 9.4514 54.7189 6 3.5371 1.0779 0.647 1.3998 0.4408 0.2516 -0.0946 -0.0218 -0.0558 -0.067 -0.0157 0.1283 -0.0125 -0.1186 0.1103 0.0742 0.0004 0.0215 0.0782 0.0351 0.0921 -10.6623 17.2611 81.2876
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA6 - 209 6 - 209 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA244 - 304 244 - 304 3 X-RAY DIFFRACTION 2 AA210 - 243 210 - 243 4 X-RAY DIFFRACTION 2 AA305 - 389 305 - 389 5 X-RAY DIFFRACTION 3 AA390 - 507 390 - 507 6 X-RAY DIFFRACTION 4 BB5 - 209 5 - 209 7 X-RAY DIFFRACTION 4 BB244 - 304 244 - 304 8 X-RAY DIFFRACTION 5 BB210 - 243 210 - 243 9 X-RAY DIFFRACTION 5 BB305 - 389 305 - 389 10 X-RAY DIFFRACTION 6 BB390 - 507 390 - 507
精密化 *PLUS
最低解像度 : 40 Å / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.255 / Rfactor Rwork : 0.194 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.02
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.304 / Rfactor Rwork : 0.218