ソフトウェア 名称 バージョン 分類 5.1.24精密化 データ削減 データスケーリング 位相決定      
精密化 構造決定の手法 開始モデル 解像度  /  Cor.coef. Fo :Fc   /  Cor.coef. Fo :Fc  free  /  SU B  /  SU ML  /  TLS residual ADP flag  /  Isotropic thermal model  /  交差検証法  /  σ(F)  /  σ(I)  /  ESU R  /  ESU R Free  /  立体化学のターゲット値 詳細 Rfactor  反射数 %反射 Selection details  Rfree  0.25552  2892  5 % RANDOM  Rwork  0.19412  - - -  obs 0.19716  54384  95.1 % -  all - 54384  - - 
溶媒の処理 イオンプローブ半径  /  減衰半径  /  VDWプローブ半径  /  溶媒モデル 原子変位パラメータ Biso   mean 2 Baniso  -1 Baniso  -2 Baniso  -3 1- 0.02 Å2  0.71 Å2  -0.94 Å2  2- - -0.08 Å2  -1.65 Å2  3- - - -0.31 Å2  
精密化ステップ サイクル  /  解像度 タンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 7887  0  0  434  8321  
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.021 8091 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.022 1.963 10977 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.262 5 1003 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.073 0.2 1189 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 6130 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.192 0.2 3746 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.12 0.2 505 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.129 0.2 60 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.125 0.2 14 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.179 2 5027 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.925 2.5 8138 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.998 3.5 3064 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.182 4.5 2839                                                
LS精密化 シェル 解像度  /  Total num. of bins used Rfactor  反射数 %反射  Rfree  0.303  183  -  Rwork  0.215  3719  -  obs - 3719  87 % 
精密化 TLS 手法  /  Refine-ID 
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11  (°2 )L12  (°2 )L13  (°2 )L22  (°2 )L23  (°2 )L33  (°2 )S11  (Å °)S12  (Å °)S13  (Å °)S21  (Å °)S22  (Å °)S23  (Å °)S31  (Å °)S32  (Å °)S33  (Å °)T11  (Å2 )T12  (Å2 )T13  (Å2 )T22  (Å2 )T23  (Å2 )T33  (Å2 )Origin x  (Å)Origin y  (Å)Origin z  (Å)1 0.4037 -0.1434 -0.2254 0.4128 0.0906 1.5709 -0.0352 -0.0197 -0.021 0.0167 0.0726 -0.0788 0.1756 0.1873 -0.0374 0.0596 0.0359 0.0014 0.0407 0.0034 0.0816 -21.1411 9.6789 19.7073 2 3.0117 -0.4155 1.5007 1.9927 0.0703 2.4219 -0.1475 0.0932 0.353 -0.1844 0.0738 -0.1691 -0.3504 0.153 0.0737 0.0574 -0.0131 0.0176 0.0036 -0.009 0.0442 -30.0176 31.39 26.289 3 2.5541 -2.1778 -1.6558 3.2639 2.0833 1.9297 0.0102 0.2221 -0.2114 -0.0146 -0.2515 0.3611 0.0396 -0.282 0.2414 0.0794 -0.0065 -0.0042 0.0875 0.0323 0.118 -38.8658 24.0323 -0.6913 4 0.6843 0.1713 0.637 0.1778 0.201 2.3575 -0.1776 0.0767 0.1998 -0.0803 -0.0117 -0.0105 -0.4084 0.1853 0.1892 0.1058 -0.0399 -0.0267 0.0686 0.0295 0.1075 6.741 31.4093 60.3983 5 2.486 0.3839 -1.7956 1.6294 0.3863 3.3188 -0.0991 -0.2207 -0.2941 0.2157 -0.0081 -0.0866 0.4712 0.0705 0.1072 0.0988 0.0018 -0.002 0.0825 -0.0079 0.0591 -2.2681 9.4514 54.7189 6 3.5371 1.0779 0.647 1.3998 0.4408 0.2516 -0.0946 -0.0218 -0.0558 -0.067 -0.0157 0.1283 -0.0125 -0.1186 0.1103 0.0742 0.0004 0.0215 0.0782 0.0351 0.0921 -10.6623 17.2611 81.2876 
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA6 - 209 6 - 209 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA244 - 304 244 - 304 3 X-RAY DIFFRACTION 2 AA210 - 243 210 - 243 4 X-RAY DIFFRACTION 2 AA305 - 389 305 - 389 5 X-RAY DIFFRACTION 3 AA390 - 507 390 - 507 6 X-RAY DIFFRACTION 4 BB5 - 209 5 - 209 7 X-RAY DIFFRACTION 4 BB244 - 304 244 - 304 8 X-RAY DIFFRACTION 5 BB210 - 243 210 - 243 9 X-RAY DIFFRACTION 5 BB305 - 389 305 - 389 10 X-RAY DIFFRACTION 6 BB390 - 507 390 - 507                     
精密化 *PLUS 
最低解像度  /  % reflection Rfree   /  Rfactor  Rfree   /  Rfactor  Rwork  溶媒の処理 *PLUS 
原子変位パラメータ *PLUS 
拘束条件 *PLUS 
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.02          
LS精密化 シェル *PLUS 
Rfactor  Rfree   /  Rfactor  Rwork