ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.1.19精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 1dqz解像度 : 1.71→30 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.956 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.949 / SU B : 2.164 / SU ML : 0.068 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.097 / ESU R Free : 0.091 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20533 3668 5 % RANDOM Rwork 0.1887 - - - obs 0.18954 69287 93.3 % - all - 69287 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 12.208 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.12 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.31 Å2 0 Å2 3- - - -1.81 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.71→30 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3936 0 0 400 4336
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.006 0.021 4070 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 3424 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg0.955 1.899 5562 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.753 3 7938 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.347 5 532 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.06 0.2 546 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 4798 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.002 0.02 882 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.182 0.2 851 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.222 0.2 4006 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.08 0.2 2008 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.117 0.2 285 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.291 0.2 8 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.185 0.2 61 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.193 0.2 31 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.173 1.5 2626 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it0.329 2 4116 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it0.61 3 1444 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it0.919 4.5 1446
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 3430 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position loose positional0.06 5 loose thermal0.21 10
LS精密化 シェル 解像度 : 1.706→1.798 Å / Total num. of bins used : 10 / Rfactor 反射数 Rfree 0.254 472 Rwork 0.243 8757
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.8557 -0.3689 -0.2751 1.6357 0.0959 0.8622 -0.0359 -0.0233 -0.0655 0.012 0.0171 0.0011 0.0873 0.0316 0.0188 0.0023 0.0106 -0.0024 0.0485 -0.0056 0.0574 27.4889 32.2448 29.0048 2 0.7531 0.1958 0.3316 0.8626 0.0916 1.6703 -0.0335 0.0776 0.006 -0.0958 0.0304 0.0206 0.008 -0.016 0.0032 0.0109 -0.0083 -0.0074 0.051 -0.0104 0.063 47.0994 2.1454 60.0301
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA33 - 281 8 - 256 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB33 - 281 8 - 256
精密化 *PLUS
最高解像度 : 1.7 Å / 最低解像度 : 30 Å / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.205 / Rfactor Rwork : 0.189 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg0.96
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 1.7 Å / 最低解像度 : 1.8 Å