解像度: 2→2.07 Å / 冗長度: 1.96 % / Rmerge(I) obs: 0.098 / % possible all: 83.3
反射
*PLUS
Rmerge(I) obs: 0.06
-
解析
ソフトウェア
名称
分類
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
X-PLOR
モデル構築
X-PLOR
精密化
X-PLOR
位相決定
精密化
解像度: 2→8 Å / Data cutoff high absF: 100000 / Data cutoff low absF: 5 / σ(F): 2 / σ(I): 1 / 立体化学のターゲット値: ENGH & HUBER /
Rfactor
反射数
%反射
Rwork
0.23
-
-
obs
-
29267
89.4 %
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2→8 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
5100
0
24
448
5572
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d
0.007
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg
1.34
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
x_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d
22.2
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d
1.08
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
x_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
x_mcbond_it
X-RAY DIFFRACTION
x_mcangle_it
X-RAY DIFFRACTION
x_scbond_it
X-RAY DIFFRACTION
x_scangle_it
Refine LS restraints NCS
NCS model details: MONOMERS A AND B RESTRAINED WITH POSITIONAL WEIGHT OF 60 KCAL/MOL/A2 FOR MAIN- CHAIN ATOMS AND 30 KCAL/MOL/A2 FOR SIDE CHAIN ATOMS. B-FACTOR SIGMAS WERE 10 AND 4 A2 FOR MAIN AND SIDE CHAIN ATOMS
LS精密化 シェル
解像度: 2→2.07 Å / Total num. of bins used: 10 /
Rfactor
反射数
%反射
Rwork
0.34
2597
-
obs
-
-
79.4 %
ソフトウェア
*PLUS
名称: X-PLOR / 分類: refinement
精密化
*PLUS
最高解像度: 2 Å / 最低解像度: 8 Å / σ(F): 2 / Rfactor obs: 0.23 / Rfactor Rwork: 0.23