ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.1.24精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング SOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : S-SAD / 解像度 : 2.6→10 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.936 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.878 / SU B : 11.008 / SU ML : 0.232 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : -2 / ESU R : 0.609 / ESU R Free : 0.32 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.26659 210 4.5 % RANDOM Rwork 0.20989 - - - all 0.2124 4456 - - obs 0.2124 4456 100 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 18.847 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.81 Å2 1.4 Å2 0 Å2 2- - 2.81 Å2 0 Å2 3- - - -4.21 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.6→10 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 894 0 0 24 918
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.015 0.021 904 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.766 1.915 1228 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.704 5 112 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.129 0.2 148 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 676 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.253 0.2 396 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.272 0.2 41 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.186 0.2 20 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.159 0.2 3 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.621 1.5 566 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.176 2 924 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.109 3 338 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.54 4.5 304
LS精密化 シェル 解像度 : 2.6→2.708 Å / Total num. of bins used : 12 / Rfactor 反射数 Rfree 0.278 23 Rwork 0.247 493
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 4.9303 -2.9232 5.6522 3.4621 -2.7738 14.9435 -0.4573 -0.3117 -0.1755 0.3604 0.3011 0.0799 0.3873 -0.0079 0.1562 0.2895 -0.0847 0.0475 0.0578 0.0277 0.2151 2.7765 24.9391 71.3211 2 5.1378 -0.1231 3.4222 2.8517 -3.7649 11.6343 -0.4165 0.1511 0.1427 -0.132 0.3139 0.4243 0.12 -0.5287 0.1026 0.245 -0.1053 -0.0117 0.0455 -0.0022 0.2378 -3.247 27.2156 59.6228
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA11 - 67 12 - 68 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB11 - 67 12 - 68
精密化 *PLUS
最高解像度 : 2.6 Å / 最低解像度 : 10 Å / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.267 / Rfactor Rwork : 0.21 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.015 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.77
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 2.6 Å / 最低解像度 : 2.71 Å