ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : OTHER / 解像度 : 2.05→27.97 Å / Rfactor Rfree error : 0.004 / Data cutoff high absF : 1540738.85 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 詳細 : REFINEMENT CARIIED OUT AGAINST PEAK ANOMALOUS DATA. SCATTERING FACTORS REFINED IN CNS: FP =-8.003; FDP=4.56Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.226 2754 1.6 % RANDOM Rwork 0.204 - - - obs 0.204 175712 98.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : MASK / Bsol : 39.1085 Å2 / ksol : 0.367266 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 26.35 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.9 Å2 1.67 Å2 0.19 Å2 2- - -0.03 Å2 0.84 Å2 3- - - -3.87 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.27 Å 0.23 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.25 Å 0.2 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.05→27.97 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 9502 0 54 647 10203
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.79 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.7 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.4 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it3.3 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it5 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.05→2.14 Å / Rfactor Rfree error : 0.016 / Total num. of bins used : 10 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.306 355 1.7 % Rwork 0.269 20739 - obs - - 94.7 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMCARBOHYDRATE.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 PLM_XPLOR_PAR.TXTPLM_XPLOR_PAR.TXT
精密化 *PLUS
最低解像度 : 20 Å / Num. reflection obs : 175152 / Num. reflection Rfree : 2836 / Rfactor Rfree : 0.227 / Rfactor Rwork : 0.205 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg22.5 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.79