ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5 精密化 MAR345データ収集 SCALEPACKデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : フーリエ合成開始モデル : PDB ENTRY 1AFU解像度 : 1.2→29.36 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.956 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.94 / SU B : 1.953 / SU ML : 0.046 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0.001 / ESU R : 0.059 / ESU R Free : 0.056 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22824 3421 5.1 % RANDOM Rwork 0.19431 - - - all 0.19602 63814 - - obs 0.19431 63814 92.9 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 14.68 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.11 Å2 0 Å2 -0.05 Å2 2- - 0.31 Å2 0 Å2 3- - - -0.2 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.2 Å 0.18 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.14 Å 0.14 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.2→29.36 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1902 0 54 558 2514
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 24) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.021 2000 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 1626 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.661 1.961 2716 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.863 3 3844 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.136 3 246 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg12.842 15 355 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.092 0.2 302 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.02 2202 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.004 0.02 368 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.25 0.3 495 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.222 0.3 1706 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.191 0.5 1 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.269 0.5 430 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_other0.231 0.5 2 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.235 0.3 28 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.279 0.3 62 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.295 0.5 73 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.233 1.5 1242 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.927 2 2006 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.345 3 758 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.54 4.5 710 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr1.337 2 2000 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free2.409 2 558 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded2.701 2 1956
LS精密化 シェル 解像度 : 1.204→1.236 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.277 205 - Rwork 0.261 3868 - obs - 3868 71.2 %
ソフトウェア *PLUS
バージョン : 5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
% reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.228 / Rfactor Rwork : 0.194 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.011 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.7