ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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CNS | 精密化 | DENZO | データ削減 | SCALEPACK | データスケーリング | CNS | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.4→61.07 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 1376780.72 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 立体化学のターゲット値: Engh & Huber, Parkinson et al.
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.284 | 4142 | 10.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.229 | - | - | - |
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obs | 0.23 | 41156 | 95.2 % | - |
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all | - | 41156 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 38.68 Å2 / ksol: 0.275 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 86.7 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.74 Å2 | 0 Å2 | 21.97 Å2 |
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2- | - | 3.17 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -2.44 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.46 Å | 0.39 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.44 Å | 0.4 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.4→61.07 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1498 | 4838 | 35 | 103 | 6474 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.006 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d18.4 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.78 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it5.04 | 3.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it6.21 | 4.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it9 | 6 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it10.56 | 7 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.4→2.55 Å / Rfactor Rfree error: 0.018 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.41 | 527 | 9.7 % |
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Rwork | 0.376 | 4927 | - |
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obs | - | - | 76.6 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMDNA_RNA_NEW.X-RAY DIFFRACTION | 3 | DNA-RNA_REPD | WATER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMION.TOP | | | | | | |
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精密化 | *PLUS Rfactor obs: 0.23 / Rfactor Rfree: 0.285 / Rfactor Rwork: 0.229 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.2 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg18.4 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.78 | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.41 / Rfactor Rwork: 0.376 |
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