ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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REFMAC | 5 | 精密化 | dtDisplay | | データ収集 | HKL-2000 | | データ削減 | CNS | | 精密化 | d*TREK | | データスケーリング | d*TREK | | データ削減 | DTDISPLAY | | データ削減 | HKL-2000 | | データスケーリング | CNS | | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 1.95→62.02 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.956 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.942 / SU B: 3.878 / SU ML: 0.109 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.175 / ESU R Free: 0.154 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.22493 | 1389 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.18708 | - | - | - |
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all | 0.18897 | 28572 | - | - |
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obs | 0.18897 | 26023 | 95.85 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 18.524 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0.45 Å2 | 0.23 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0.45 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.68 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.95→62.02 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2807 | 0 | 0 | 205 | 3012 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.024 | 0.021 | 2861 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d0.003 | 0.02 | 2646 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.814 | 1.967 | 3873 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg1.176 | 3 | 6209 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg5.646 | 5 | 378 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg19.146 | 15 | 543 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.11 | 0.2 | 457 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.008 | 0.02 | 3158 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other0.003 | 0.02 | 504 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined0.244 | 0.2 | 600 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_other0.268 | 0.2 | 2913 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_other0.092 | 0.2 | 1607 | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined0.178 | 0.2 | 127 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined0.246 | 0.2 | 25 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_other0.284 | 0.2 | 132 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined0.207 | 0.2 | 23 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it1.129 | 1.5 | 1835 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.875 | 2 | 2947 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.941 | 3 | 1026 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it4.486 | 4.5 | 917 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.95→2.001 Å / Total num. of bins used: 20 / | Rfactor | 反射数 |
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Rfree | 0.269 | 101 |
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Rwork | 0.202 | 1745 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 2.5311 | 0.227 | 0.0972 | 1.831 | 0.3202 | 2.666 | 0.1483 | 0.04 | 0.3375 | -0.1638 | -0.0291 | -0.2212 | -0.3502 | 0.1268 | -0.1192 | 0.188 | -0.0354 | 0.0849 | 0.0094 | 0.0001 | 0.1331 | 16.1916 | 51.8158 | 16.3063 | 2 | 3.3124 | 0.4034 | -0.4512 | 1.3045 | -0.1724 | 1.6703 | 0.1409 | 0.2074 | -0.4953 | -0.2093 | -0.0337 | 0.01 | 0.3463 | 0.0926 | -0.1073 | 0.2748 | 0.0418 | -0.0494 | 0.0406 | -0.0601 | 0.1784 | 13.0884 | 18.3364 | 8.9573 | 3 | 1.0395 | 0.1262 | 0.0962 | 1.1398 | 0.1678 | 0.8797 | 0.11 | 0.0873 | -0.0222 | -0.2398 | -0.0561 | -0.0435 | -0.038 | -0.0066 | -0.0539 | 0.2486 | -0.0022 | 0.0224 | 0.2028 | 0.0073 | 0.232 | 13.8071 | 35.711 | 12.5807 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Label asym-ID | Auth seq-ID | Label seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | AA0 - 185 | 1 - 186 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | BB0 - 185 | 1 - 186 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | A - B | A - B | 186 - 203 | 1 - 279 | | | | |
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精密化 | *PLUS 最低解像度: 62 Å / Rfactor Rfree: 0.224 / Rfactor Rwork: 0.189 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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LS精密化 シェル | *PLUS 最高解像度: 1.95 Å / 最低解像度: 2 Å / Rfactor Rwork: 0.201 |
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