ソフトウェア 名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : 精密化精密化 解像度 : 1.6→16.69 Å / Rfactor Rfree error : 0.008 / Data cutoff high absF : 635784.22 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.288 1346 9.8 % RANDOM Rwork 0.26 - - - obs 0.26 13798 95.4 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 42.3081 Å2 / ksol : 0.456314 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 28.8 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.94 Å2 1.92 Å2 0 Å2 2- - 2.94 Å2 0 Å2 3- - - -5.88 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.29 Å 0.25 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.1 Å 0.07 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→16.69 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 400 1 38 439
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.2 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d6 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.25 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.6→1.7 Å / Rfactor Rfree error : 0.022 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.317 215 9.8 % Rwork 0.286 1968 - obs - - 90.8 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 DNA-RNA_REP.PARAM X-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAM
ソフトウェア *PLUS
バージョン : 1 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最低解像度 : 50 Å / σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 9.8 % / Rfactor obs : 0.26 / Rfactor Rwork : 0.26 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 28.8 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.211 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg6 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.25
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.317 / % reflection Rfree : 9.8 % / Rfactor Rwork : 0.286