ソフトウェア 名称 バージョン 分類 AMoRE位相決定 CNS1 精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1EFA解像度 : 4→9.99 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 128004.13 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.261 1953 9.9 % RANDOM Rwork 0.249 - - - obs 0.249 19784 96.1 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 64.8743 Å2 / ksol : 0.361311 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 67.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.16 Å2 12.83 Å2 0 Å2 2- - -0.16 Å2 0 Å2 3- - - 0.32 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.47 Å 0.44 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.55 Å 0.61 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 4→9.99 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6641 571 60 0 7272
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.01 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.6 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d23.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.54 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.28 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.32 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.37 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.34 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 4→4.23 Å / Rfactor Rfree error : 0.016 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.291 325 10.1 % Rwork 0.272 2886 - obs - - 94.2 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 DNA-RNA_REP.PARAM DNA-RNA.TOP X-RAY DIFFRACTION 3 PARAM.ONPFTOP.ONPF
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 9.9 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 67.7 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.6 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg23.5 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.54 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.291 / % reflection Rfree : 10.1 % / Rfactor Rwork : 0.272