ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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SADIE | | データ収集 | SAINT | | データ削減 | PHASES | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | SADIE | | データ削減 | SAINT | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 2.3→15 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 817933.19 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.252 | 3170 | 10.3 % | RANDOM |
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Rwork | 0.199 | - | - | - |
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obs | 0.199 | 30703 | 85 % | - |
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all | - | 65088 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 40.2904 Å2 / ksol: 0.291263 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 41.4 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 4.08 Å2 | -1.76 Å2 | -3.24 Å2 |
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2- | - | -2.58 Å2 | 2.18 Å2 |
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3- | - | - | -1.5 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.35 Å | 0.27 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.35 Å | 0.3 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.3→15 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 5938 | 0 | 0 | 111 | 6049 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.007 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d23.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d230.76 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.47 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it2.47 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.14 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.23 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.3→2.44 Å / Rfactor Rfree error: 0.015 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.295 | 412 | 10.3 % |
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Rwork | 0.261 | 3592 | - |
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obs | - | 3565 | 65.9 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最低解像度: 15 Å / σ(F): 2 / % reflection Rfree: 10.3 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 41.4 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg23.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg230.76 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.47 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it2.14 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it2.47 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it3.23 | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.295 / % reflection Rfree: 10.3 % / Rfactor Rwork: 0.261 |
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