ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
MLPHARE | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.2→28.55 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 535132.12 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.285 | 4543 | 9.7 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.238 | - | - | - |
---|
all | 0.2378 | 46556 | - | - |
---|
obs | 0.238 | 46556 | 98.5 % | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 44.4059 Å2 / ksol: 0.364752 e/Å3 |
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 36.2 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | 2.28 Å2 | 3.07 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | 2.28 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | -4.55 Å2 |
---|
|
---|
Refine analyze | | Free | Obs |
---|
Luzzati coordinate error | 0.38 Å | 0.3 Å |
---|
Luzzati d res low | - | 5 Å |
---|
Luzzati sigma a | 0.31 Å | 0.26 Å |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.2→28.55 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 3208 | 0 | 0 | 290 | 3498 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.008 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.6 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d24.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.73 | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度: 2.2→2.34 Å / Rfactor Rfree error: 0.012 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
---|
Rfree | 0.323 | 718 | 9.5 % |
---|
Rwork | 0.273 | 6827 | - |
---|
obs | - | - | 95.6 % |
---|
|
---|
Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
---|
X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | |
|
---|
精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.2 Å / 最低解像度: 30 Å / Rfactor obs: 0.234 / Rfactor Rfree: 0.281 / Rfactor Rwork: 0.234 |
---|
溶媒の処理 | *PLUS |
---|
原子変位パラメータ | *PLUS |
---|
拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.6 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg24.8 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.73 | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.323 / Rfactor Rwork: 0.273 |
---|