ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | MLPHARE | | 位相決定 | CNS | 1.1 | 精密化 |
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精密化 | 構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.31→35.97 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 2231137.46 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.183 | 2162 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.156 | - | - | - |
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all | - | 43422 | - | - |
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obs | - | 43422 | 99.4 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 38.462 Å2 / ksol: 0.324721 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 37.9 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -2.22 Å2 | -1.07 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -2.22 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 4.45 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.26 Å | 0.21 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.22 Å | 0.21 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.31→35.97 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2369 | 0 | 31 | 114 | 2514 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.01 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.6 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d25.7 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it3.01 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it4.12 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it4.4 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it5.46 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.31→2.45 Å / Rfactor Rfree error: 0.013 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.24 | 360 | 5.2 % |
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Rwork | 0.205 | 6586 | - |
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obs | - | - | 95.2 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | protein_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION | 2 | water_rep.paramwater.topX-RAY DIFFRACTION | 3 | ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION | 4 | FUC.paramFUC.topX-RAY DIFFRACTION | 5 | cis_peptide.param | | | | | | | | | |
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精密化 | *PLUS 最低解像度: 40 Å / Num. reflection obs: 43442 / Rfactor Rwork: 0.161 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg25.7 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.9 | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.241 / Rfactor Rwork: 0.212 |
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