ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング | AMoRE | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: PDB ENTRY 1I3U 解像度: 2.03→14.6 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Data cutoff high absF: 1727957.46 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.25 | 1066 | 6.9 % | RANDOM |
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Rwork | 0.212 | - | - | - |
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obs | 0.212 | 15339 | 95.4 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 42.72 Å2 / ksol: 0.35 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 26.3 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -3.63 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 3.18 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0.45 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.31 Å | 0.25 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.27 Å | 0.21 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.03→14.6 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1974 | 0 | 0 | 147 | 2121 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.02 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d28 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1.35 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it1.17 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.97 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.72 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.64 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.03→2.16 Å / Rfactor Rfree error: 0.026 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.345 | 174 | 7 % |
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Rwork | 0.272 | 2328 | - |
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obs | - | - | 95.5 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最低解像度: 12 Å / σ(F): 0 / Rfactor obs: 0.211 / Rfactor Rfree: 0.244 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 26.3 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.015 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg27.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1.14 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it | 2.5 | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.345 / % reflection Rfree: 7 % / Rfactor Rwork: 0.272 |
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