ソフトウェア 名称 バージョン 分類 XDSデータ削減 SCALAデータスケーリング SHARP位相決定 AMoRE位相決定 CNS0.5 精密化
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1NEW解像度 : 1.9→14 Å / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0.01 / 詳細 : THREE RESIDUES HAVE MULTIPLE CONFORMERSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.242 542 5 % RANDOM Rwork 0.194 - - - obs 0.194 5213 92.7 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 37.0162 Å2 / ksol : 0.30017 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 24.12 Å2 Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.26 Å 0.21 Å Luzzati d res low - 6 Å Luzzati sigma a 0.17 Å 0.11 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.9→14 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 505 0 129 116 750
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg4.12 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d26.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.69 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 1.9→1.97 Å / Total num. of bins used : 10 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.24 39 5 % Rwork 0.212 435 - obs - - 72.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PARHCSDX.PROTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION 2 PARAM19X.HEMETOP19X.HEME
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg26.3 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.69
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.24