ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS0.9 精密化 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1A7H解像度 : 2.4→100 Å / Data cutoff high absF : 10000 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 詳細 : ALSO USED CCP4 PROGRAMS REFMAC, FFT, MAPMASK AND ARPP FOR SOME REFINEMENT ROUNDSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.2639 844 7.4 % RANDOM Rwork 0.2159 - - - obs 0.2159 10965 99.4 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : SHELL MODEL / Bsol : 49.795 Å2 / ksol : 0.409 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 30.904 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -1.521 Å2 -6.423 Å2 0 Å2 2- - -1.521 Å2 0 Å2 3- - - 3.042 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.4→100 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1468 0 0 90 1558
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.0093 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.388 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.4→2.46 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 %反射 Rwork 0.107 819 - obs - - 97.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.9 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最低解像度 : 100 Å溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS