ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
SHARP | | 位相決定 | SOLOMON | | 位相決定 | CNS | 1 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
|
---|
精密化 | 解像度: 1.46→10 Å / Rfactor Rfree error: 0.006 / Data cutoff high absF: 1440982.24 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.205 | 1111 | 2.8 % | RANDOM |
---|
Rwork | 0.178 | - | - | - |
---|
obs | 0.178 | 39779 | 95.7 % | - |
---|
all | - | 498167 | - | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 68.42 Å2 / ksol: 0.431 e/Å3 |
---|
原子変位パラメータ | Biso mean: 20.1 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
---|
1- | 6.32 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
---|
2- | - | -2.98 Å2 | 0 Å2 |
---|
3- | - | - | -3.34 Å2 |
---|
|
---|
Refine analyze | | Free | Obs |
---|
Luzzati coordinate error | 0.16 Å | 0.14 Å |
---|
Luzzati d res low | - | 5 Å |
---|
Luzzati sigma a | 0.13 Å | 0.11 Å |
---|
|
---|
精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.46→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 1894 | 0 | 13 | 272 | 2179 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.031 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.5 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d25.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d2.26 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it2.96 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it4.23 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it6.06 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it7.56 | 2.5 | | | | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度: 1.46→1.55 Å / Rfactor Rfree error: 0.021 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
---|
Rfree | 0.264 | 165 | 2.6 % |
---|
Rwork | 0.222 | 6135 | - |
---|
obs | - | - | 92.3 % |
---|
|
---|
Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
---|
X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | DTT.PARAMDTT.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | PARAM.PO4TOP.PO4X-RAY DIFFRACTION | 4 | WATER.PARAMWATER.TOP | | | | | | | |
|
---|
ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
---|
精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 2.8 % |
---|
溶媒の処理 | *PLUS |
---|
原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 20.1 Å2 |
---|
拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
---|
X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg2.5 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg25.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg2.26 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it | 2.5 | | | | | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.264 / % reflection Rfree: 2.6 % / Rfactor Rwork: 0.222 |
---|