ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHASES | | 位相決定 | X-PLOR | 3.851 | 精密化 | FRAMBO | | データ収集 | SADIE | | データスケーリング | SAINT | | データスケーリング |
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精密化 | 解像度: 2→14.97 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 667176.13 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.244 | 3926 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.169 | - | - | - |
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obs | 0.169 | 39143 | 74.8 % | - |
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all | - | 124509 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 40.37 Å2 / ksol: 0.342 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 25.5 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -1.07 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -1.97 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 3.03 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.29 Å | 0.21 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.25 Å | 0.24 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→14.97 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 6530 | 0 | 0 | 145 | 6675 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.007 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d24.5 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d0.64 | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it1.78 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it2.66 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it3.04 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it4.35 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2→2.12 Å / Rfactor Rfree error: 0.014 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.294 | 427 | 10 % |
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Rwork | 0.249 | 3839 | - |
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obs | - | - | 49.8 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMWATER.TOP | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.851 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 2 / % reflection Rfree: 10 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 25.5 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.32 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg24.5 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg0.64 | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it1.78 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it3.04 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it2.66 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it4.35 | 2.5 | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.294 / % reflection Rfree: 10 % / Rfactor Rwork: 0.249 |
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