ソフトウェア 名称 バージョン 分類 MLPHARE位相決定 ARP/wARPモデル構築 CNS1 精密化 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 多重同系置換・異常分散 / 解像度 : 1.5→34.35 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 85632626.06 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0.1 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.224 1127 4.8 % RANDOM Rwork 0.221 - - - obs 0.221 23301 100 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 30.05 Å2 / ksol : 0.318 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 19 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.41 Å2 0 Å2 0.94 Å2 2- - 1.65 Å2 0 Å2 3- - - -1.24 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.2 Å 0.19 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.15 Å 0.08 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→34.35 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1257 0 0 247 1504
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.004 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d25.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.93 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.58 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2.6 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.9 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it4.6 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.5→1.59 Å / Rfactor Rfree error : 0.023 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.322 193 5 % Rwork 0.253 3676 - obs - - 100 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0.1 / % reflection Rfree : 4.8 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 19 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg25.3 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.93 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.322 / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rwork : 0.253 / Rfactor obs : 0.262