ソフトウェア 名称 分類 CNS精密化 SCALEPACKデータスケーリング CNS位相決定
精密化 解像度 : 1.95→33.4 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 260280.23 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22 915 3 % RANDOM Rwork 0.185 - - - obs 0.185 30053 93.2 % - all - 0 - -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 43.65 Å2 / ksol : 0.356 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 20.1 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 1.14 Å2 0.38 Å2 0.11 Å2 2- - 0.75 Å2 0.94 Å2 3- - - -1.89 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.24 Å 0.2 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.17 Å 0.16 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→33.4 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3412 0 88 358 3858
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.006 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.81 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.22 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.96 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.04 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.93 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.95→2.07 Å / Rfactor Rfree error : 0.02 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.25 150 3.2 % Rwork 0.221 4562 - obs - - 88.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMNAD.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 NAD.PARAM
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 1 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 3 % / Rfactor Rfree : 0.22 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 20.1 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg22.4 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.81 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.5 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.25 / % reflection Rfree : 3.2 % / Rfactor Rwork : 0.221