ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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AMoRE | | 位相決定 | CNS | 0.4 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: WINGED BEAN BASIC LECTIN 解像度: 3→20 Å / Rfactor Rfree error: 0.009 / Data cutoff high absF: 224886.48 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: GROUP / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: ENGH & HUBER
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.251 | 868 | 8.2 % | RANDOM |
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Rwork | 0.195 | - | - | - |
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obs | 0.195 | 10646 | 95.9 % | - |
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all | - | 11152 | - | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 31.83 Å2 / ksol: 0.2458 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 46.7 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 5.6 Å2 | 2.03 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 5.6 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -11.19 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.43 Å | 0.32 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.58 Å | 0.43 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 3→20 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 3430 | 0 | 95 | 41 | 3566 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.008 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d27.4 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d1 | | | | |
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Refine LS restraints NCS | NCS model details: CONSTR |
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LS精密化 シェル | 解像度: 3→3.19 Å / Rfactor Rfree error: 0.029 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.332 | 133 | 7.8 % |
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Rwork | 0.285 | 1565 | - |
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obs | - | - | 91.1 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | HOHER_REP.PARAMHOHER.TOPX-RAY DIFFRACTION | 3 | CARBOHYDRATE.PARAMCARBOHYDRATE.TOPX-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION | 5 | CIS.PARAM | | | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 0.4 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 8.2 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 46.7 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.008 | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg27.4 | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg1 | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.332 / % reflection Rfree: 7.8 % / Rfactor Rwork: 0.285 |
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