ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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MOSFLM | | データ削減 | SAINT | | データスケーリング | SCALA | | データスケーリング | TRUNCATE | | データ削減 | SAINT | | データ削減 | AMoRE | | 位相決定 | X-PLOR | 3.851 | 精密化 | CCP4 | (SCALAデータスケーリング | TRUNCATE | | データスケーリング | |
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精密化 | 解像度: 1.55→8 Å / Rfactor Rfree error: 0.007 / Data cutoff high absF: 100000 / Data cutoff low absF: 0.1 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / σ(F): 2 / σ(I): 0
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.27 | 1709 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.225 | - | - | - |
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obs | 0.225 | 34434 | 92.7 % | - |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 11.9 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 0 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | 0 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 0 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.23 Å | 0.2 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.12 Å | 0.16 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.55→8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1912 | 0 | 0 | 252 | 2164 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.006 | | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d24.3 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d0.67 | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it1.07 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it1.6 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it1.92 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it2.84 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.55→1.6 Å / Rfactor Rfree error: 0.026 / Total num. of bins used: 10
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.348 | 175 | 6 % |
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Rwork | 0.299 | 2762 | - |
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obs | - | - | 80.2 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION | 2 | TIP3P.PARAMETERTIP3P.TOPOLOGY | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.851 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 2 / % reflection Rfree: 5 % / Rfactor Rfree: 0.27 |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 11.9 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.2 | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg24.3 | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_deg0.67 | | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.348 / % reflection Rfree: 6 % / Rfactor Rwork: 0.299 |
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