ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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d*TREK | データ削減 | X-PLOR | モデル構築 | SHELXL-97 | 精密化 | d*TREK | データスケーリング | X-PLOR | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.7→10 Å / Num. parameters: 1843 / Num. restraintsaints: 1769 / 交差検証法: A POSTERIORI / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: G.PARKINSON ET AL.
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.269 | 295 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.194 | - | - | - |
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all | 0.196 | 5929 | - | - |
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obs | 0.194 | 5929 | 99.3 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: SHELXL SWAT OPTION |
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Refine analyze | Num. disordered residues: 0 / Occupancy sum hydrogen: 0 / Occupancy sum non hydrogen: 460 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.7→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 408 | 7 | 45 | 460 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | s_bond_d0.008 | X-RAY DIFFRACTION | s_angle_d0.022 | X-RAY DIFFRACTION | s_similar_dist | X-RAY DIFFRACTION | s_from_restr_planes0.061 | X-RAY DIFFRACTION | s_zero_chiral_vol | X-RAY DIFFRACTION | s_non_zero_chiral_vol | X-RAY DIFFRACTION | s_anti_bump_dis_restr0.005 | X-RAY DIFFRACTION | s_rigid_bond_adp_cmpnt | X-RAY DIFFRACTION | s_similar_adp_cmpnt0.059 | X-RAY DIFFRACTION | s_approx_iso_adps | | | | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: SHELXL-97 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.7 Å / 最低解像度: 10 Å / Num. reflection obs: 5900 / σ(F): 0 / % reflection Rfree: 5 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS タイプ: s_plane_restr / Dev ideal: 0.061 |
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