ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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SHELXL-97 | 精密化 | CNS | 精密化 | HKL-2000 | データ削減 | HKL-2000 | データスケーリング | CNS | 位相決定 |
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精密化 | 構造決定の手法: MAD PHASING BY BROMINES / 解像度: 1.5→10 Å / Num. parameters: 2220 / Num. restraintsaints: 1837 / 交差検証法: A POSTERIORI / σ(F): 0 / σ(I): 0 立体化学のターゲット値: G.PARKINSON, J.VOJTECHOVSKY, L.CLOWNEY, A.T.BRUNGER, H.M.BERMAN 詳細: SHELXL HOPE OPTION
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.278 | 437 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.234 | - | - | - |
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all | 0.234 | 8923 | - | - |
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obs | 0.234 | 8923 | 99.9 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: SHELXL SWAT OPTION |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.5→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 412 | 9 | 133 | 554 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | s_bond_d0.009 | X-RAY DIFFRACTION | s_angle_d0.024 | X-RAY DIFFRACTION | s_similar_dist | X-RAY DIFFRACTION | s_from_restr_planes0.052 | X-RAY DIFFRACTION | s_zero_chiral_vol | X-RAY DIFFRACTION | s_non_zero_chiral_vol | X-RAY DIFFRACTION | s_anti_bump_dis_restr0.003 | X-RAY DIFFRACTION | s_rigid_bond_adp_cmpnt | X-RAY DIFFRACTION | s_similar_adp_cmpnt0.072 | X-RAY DIFFRACTION | s_approx_iso_adps | | | | | | | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: SHELXL-97 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 1.5 Å / 最低解像度: 10 Å / σ(F): 0 / % reflection Rfree: 5 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | s_bond_d0.01 | X-RAY DIFFRACTION | s_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | s_angle_deg1.98 | X-RAY DIFFRACTION | s_plane_restr0.052 | | | | |
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