ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング MLPHARE位相決定 CNS0.5 精密化
精密化 解像度 : 1.5→10 Å / Rfactor Rfree error : 0.007 / Data cutoff high absF : 646169.44 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / 立体化学のターゲット値 : ENGH & HUBERRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.245 1362 10 % RANDOM Rwork 0.214 - - - all 0.214 14322 - - obs 0.214 13549 94.6 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 58.34 Å2 / ksol : 0.394 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 29.7 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 3.61 Å2 1.74 Å2 0 Å2 2- - 3.61 Å2 0 Å2 3- - - -7.22 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.2 Å 0.18 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.12 Å 0.09 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→10 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 515 0 1 150 666
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.012 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d15.7 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it0.956 2 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.503 3 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.853 3 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.676 3.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.5→1.59 Å / Rfactor Rfree error : 0.018 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.27 219 9.8 % Rwork 0.233 2008 - obs - - 96.1 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP_D.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 ION.PARAMION.TOP
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 10 %溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 29.7 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg15.7 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1 X-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it3 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it3 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.5
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.27 / % reflection Rfree : 9.8 % / Rfactor Rwork : 0.233