ソフトウェア | 名称 | 分類 |
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X-PLOR | 精密化 | ADSC | データ収集 |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: DDF045 解像度: 2.2→10 Å / σ(F): 3
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.314 | - | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.199 | - | - | - |
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obs | 0.199 | 1061 | 97.4 % | - |
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Refine Biso | クラス | Refine-ID | 詳細 | Treatment |
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ALL ATOMSX-RAY DIFFRACTION | TRisotropicALL WATERSX-RAY DIFFRACTION | TRisotropic | | | | | |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.2→10 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 120 | 42 | 8 | 170 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.014 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg3.1 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.2→2.3 Å / | Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rwork | 0.285 | 111 | - |
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obs | - | - | 82.8 % |
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Xplor file | Serial no: 1 / Param file: PARDNA.PRO / Topol file: TOPDNA.PRO |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS 最高解像度: 2.2 Å / 最低解像度: 10 Å / σ(F): 3 / % reflection Rfree: 10 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS タイプ: x_angle_deg / Dev ideal: 3.1 |
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