ソフトウェア 名称 バージョン 分類 1.1 精密化 データ収集 データスケーリング 位相決定 
精密化 構造決定の手法  /  解像度  /  Rfactor  Rfree  error  /  Data cutoff high absF  /  Data cutoff low absF  /  Isotropic thermal model  /  交差検証法  /  σ(F)  /  立体化学のターゲット値 Rfactor  反射数 %反射 Selection details  Rfree  0.242  1530  7.2 % RANDOM  Rwork  0.195  - - -  all 0.233  21383  - -  obs 0.231  21203  99.2 % - 
溶媒の処理 溶媒モデル  /  Bsol  2  /  ksol  3 原子変位パラメータ Biso   mean 2 Baniso  -1 Baniso  -2 Baniso  -3 1- 3.66 Å2  0 Å2  -1.69 Å2  2- - -3.36 Å2  0 Å2  3- - - -0.3 Å2  
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.26 Å 0.2 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.19 Å 0.15 Å 
精密化ステップ サイクル  /  解像度 タンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0  1422  97  353  1872  
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.017 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.9 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d20.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.88 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it                                                                         
LS精密化 シェル 解像度  /  Rfactor  Rfree  error  /  Total num. of bins used Rfactor  反射数 %反射  Rfree  0.327  273  7.9 %  Rwork  0.269  3191  -  obs - - 98.2 % 
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 water_rep.paramwater_rep.topX-RAY DIFFRACTION 2 dna-rna_rep_revise.param dna-rna_rep_revise.top X-RAY DIFFRACTION 3 ion.paramion.topX-RAY DIFFRACTION 4 cohex_rep.paramcohex_rep.topX-RAY DIFFRACTION 5 acetate.paramacetate.top