ソフトウェア 名称 バージョン 分類 BUSTER2.11.8精密化 Adxvデータ削減 Aimlessデータスケーリング PHASES位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.244→145.52 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.926 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.912 / SU R Cruickshank DPI : 0.295 / 交差検証法 : THROUGHOUT / SU R Blow DPI : 0.309 / SU Rfree Blow DPI : 0.24 / SU Rfree Cruickshank DPI : 0.237 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.288 2609 - RANDOM Rwork 0.2445 - - - obs 0.2467 52769 98.6 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 69.84 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -7.0338 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -7.0338 Å2 0 Å2 3- - - 14.0675 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.39 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.244→145.52 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 6842 0 61 168 7071
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 Restraint function Weight X-RAY DIFFRACTION t_bond_d0.008 7027 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_angle_deg0.87 9481 HARMONIC2 X-RAY DIFFRACTION t_dihedral_angle_d2495 SINUSOIDAL2 X-RAY DIFFRACTION t_gen_planes1242 HARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_it7027 HARMONIC10 X-RAY DIFFRACTION t_chiral_improper_torsion911 SEMIHARMONIC5 X-RAY DIFFRACTION t_ideal_dist_contact5805 SEMIHARMONIC4 X-RAY DIFFRACTION t_omega_torsion2.66 X-RAY DIFFRACTION t_other_torsion17.62
LS精密化 シェル 解像度 : 2.244→2.27 ÅRfactor 反射数 %反射 Rfree 0.4737 53 - Rwork 0.4366 - - obs - - 67.15 %
精密化 TLS Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.367 0.3108 -0.443 0.1761 -0.6837 1.1737 -0.1064 -0.0833 0.0918 -0.0833 0.0766 0.0476 0.0918 0.0476 0.0298 0.5116 0.0166 -0.022 -0.1821 0.0411 -0.1167 10.6224 29.3249 -55.0731 2 0.0714 0.0701 -0.0398 1.4928 0.0128 1.8561 0.028 -0.1851 0.3021 -0.1851 -0.0636 0.135 0.3021 0.135 0.0356 0.3005 0.1277 0.0181 -0.0943 0.0813 -0.1396 -0.0473 51.8848 -21.9119
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Selection details Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 { A|* }A20 - 498 2 X-RAY DIFFRACTION 1 { A|* }A501 3 X-RAY DIFFRACTION 2 { B|* }B20 - 499 4 X-RAY DIFFRACTION 2 { B|* }B501