ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (1.21_5207: ???)精密化 | xia2 | | データ削減 | xia2 | | データスケーリング | PHASER | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2→32.45 Å / SU ML: 0.21 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 33.46 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2719 | 572 | 5.01 % |
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Rwork | 0.2162 | - | - |
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obs | 0.2191 | 11427 | 99.89 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.1 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2→32.45 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1503 | 0 | 0 | 39 | 1542 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.002 | 1524 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.517 | 2065 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d19.422 | 559 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.034 | 248 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.003 | 261 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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2-2.2 | 0.3376 | 144 | 0.2595 | 2722 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.2-2.52 | 0.2897 | 143 | 0.226 | 2718 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.52-3.17 | 0.2995 | 143 | 0.2366 | 2719 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.18-32.45 | 0.2439 | 142 | 0.1969 | 2696 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
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