ソフトウェア 名称 バージョン 分類 PHENIX(1.20.1_4487: ???)精密化 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.43→36.5 Å / SU ML : 0.11 / 交差検証法 : FREE R-VALUE / σ(F) : 1.4 / 位相誤差 : 16.46 / 立体化学のターゲット値 : MLRfactor 反射数 %反射 Rfree 0.1793 2917 5.03 % Rwork 0.1784 - - obs 0.1784 58029 97.73 %
溶媒の処理 減衰半径 : 0.9 Å / VDWプローブ半径 : 1.1 Å / 溶媒モデル : FLAT BULK SOLVENT MODEL精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.43→36.5 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1902 0 0 330 2232
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal 数 X-RAY DIFFRACTION f_bond_d0.008 2096 X-RAY DIFFRACTION f_angle_d1.039 2857 X-RAY DIFFRACTION f_dihedral_angle_d13.63 798 X-RAY DIFFRACTION f_chiral_restr0.093 320 X-RAY DIFFRACTION f_plane_restr0.012 379
LS精密化 シェル 大きな表を表示 (7 x 21) 大きな表を隠す 解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Refine-ID % reflection obs (%)1.43-1.45 0.2156 131 0.2312 2377 X-RAY DIFFRACTION 90 1.45-1.48 0.2391 132 0.2193 2477 X-RAY DIFFRACTION 94 1.48-1.51 0.2031 116 0.2199 2496 X-RAY DIFFRACTION 94 1.51-1.53 0.2319 144 0.2177 2508 X-RAY DIFFRACTION 95 1.53-1.57 0.2184 138 0.2004 2529 X-RAY DIFFRACTION 95 1.57-1.6 0.2146 128 0.198 2554 X-RAY DIFFRACTION 96 1.6-1.64 0.1855 142 0.1962 2573 X-RAY DIFFRACTION 97 1.64-1.68 0.2223 119 0.1968 2584 X-RAY DIFFRACTION 97 1.68-1.72 0.214 148 0.1924 2600 X-RAY DIFFRACTION 98 1.72-1.77 0.1981 141 0.1969 2612 X-RAY DIFFRACTION 98 1.77-1.83 0.1942 146 0.2067 2621 X-RAY DIFFRACTION 99 1.83-1.9 0.2045 144 0.1954 2641 X-RAY DIFFRACTION 99 1.9-1.97 0.188 125 0.1787 2674 X-RAY DIFFRACTION 100 1.97-2.06 0.1962 138 0.1841 2685 X-RAY DIFFRACTION 100 2.06-2.17 0.1988 137 0.1817 2690 X-RAY DIFFRACTION 100 2.17-2.31 0.1815 142 0.1731 2700 X-RAY DIFFRACTION 100 2.31-2.49 0.1736 152 0.175 2684 X-RAY DIFFRACTION 100 2.49-2.74 0.1596 165 0.1764 2697 X-RAY DIFFRACTION 100 2.74-3.13 0.1768 150 0.1699 2739 X-RAY DIFFRACTION 100 3.13-3.94 0.151 132 0.155 2764 X-RAY DIFFRACTION 100 3.94-36.5 0.1363 147 0.1527 2907 X-RAY DIFFRACTION 100