温度: 298 K / 手法: 蒸気拡散法, シッティングドロップ法 / 詳細: PEG Smear Broad, 0.1 M MES pH 6.5
-
データ収集
回折
平均測定温度: 100 K / Serial crystal experiment: N
放射光源
由来: LIQUID ANODE / タイプ: BRUKER METALJET / 波長: 1.34138 Å
検出器
タイプ: BRUKER PHOTON 100 / 検出器: CMOS / 日付: 2021年6月17日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.34138 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.31→35.6 Å / Num. obs: 41102 / % possible obs: 99.1 % / 冗長度: 2.84 % / Rmerge(I) obs: 0.0114 / Net I/σ(I): 5.78
反射 シェル
解像度: 2.31→2.35 Å / Rmerge(I) obs: 0.35 / Num. unique obs: 2024 / % possible all: 95.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データスケーリング
REFMAC
5.8.0238
精密化
PDB_EXTRACT
3.27
データ抽出
SAINT
データ削減
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 2.31→35.6 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.946 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.886 / SU B: 9.716 / SU ML: 0.23 / SU R Cruickshank DPI: 0.4398 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.44 / ESU R Free: 0.287 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.272
1998
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.1861
-
-
-
obs
0.1904
38467
98.48 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK