ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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HKL-2000 | | データスケーリング | PHENIX | 1.15rc1_3423精密化 | PDB_EXTRACT | 3.27 | データ抽出 | HKL-2000 | | データ削減 | Auto-Rickshaw | | 位相決定 | Coot | | モデル構築 | SHELXDE | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.879→27.574 Å / SU ML: 0.17 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 18.02 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.1916 | 1801 | 10.13 % |
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Rwork | 0.1563 | 15984 | - |
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obs | 0.1598 | 17785 | 99.94 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
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原子変位パラメータ | Biso max: 86.13 Å2 / Biso mean: 31.3659 Å2 / Biso min: 16.34 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: final / 解像度: 1.879→27.574 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 819 | 0 | 25 | 72 | 916 |
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Biso mean | - | - | 40.96 | 40.49 | - |
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残基数 | - | - | - | - | 106 |
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LS精密化 シェル | Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Rfactor Rfree error: 0 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | % reflection obs (%) |
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1.879-1.9296 | 0.2492 | 138 | 0.1976 | 1221 | 100 | 1.9296-1.9864 | 0.1786 | 129 | 0.1733 | 1210 | 100 | 1.9864-2.0505 | 0.2351 | 134 | 0.1605 | 1253 | 100 | 2.0505-2.1237 | 0.2019 | 136 | 0.1607 | 1260 | 100 | 2.1237-2.2087 | 0.1787 | 136 | 0.1463 | 1224 | 100 | 2.2087-2.3092 | 0.2006 | 142 | 0.1537 | 1226 | 100 | 2.3092-2.4309 | 0.1896 | 142 | 0.1518 | 1241 | 100 | 2.4309-2.5831 | 0.1952 | 140 | 0.1653 | 1216 | 100 | 2.5831-2.7824 | 0.2171 | 140 | 0.1536 | 1220 | 100 | 2.7824-3.062 | 0.1836 | 141 | 0.1644 | 1235 | 100 | 3.062-3.5043 | 0.1954 | 148 | 0.1515 | 1221 | 100 | 3.5043-4.4122 | 0.1725 | 140 | 0.1344 | 1240 | 100 | 4.4122-27.574 | 0.1891 | 135 | 0.1699 | 1217 | 99 |
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精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: -22.9593 Å / Origin y: 9.7755 Å / Origin z: -5.0076 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
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T | 0.2036 Å2 | 0.0033 Å2 | -0.0217 Å2 | - | 0.1841 Å2 | 0.0015 Å2 | - | - | 0.1776 Å2 |
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L | 1.6564 °2 | -0.1956 °2 | 0.1283 °2 | - | 1.6855 °2 | 0.0231 °2 | - | - | 1.0951 °2 |
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S | -0.058 Å ° | -0.0378 Å ° | 0.019 Å ° | 0.1073 Å ° | 0.0245 Å ° | -0.099 Å ° | -0.0197 Å ° | 0.0396 Å ° | -0.0001 Å ° |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Selection details | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA5 - 202 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA321 - 301 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allS1 - 72 | | | | | | |
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