プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97857 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.76→46.52 Å / Num. obs: 16891 / % possible obs: 99.6 % / 冗長度: 4.9 % / Rmerge(I) obs: 0.076 / Net I/σ(I): 11.7
反射 シェル
解像度: 1.76→1.8 Å / 冗長度: 4.9 % / Rmerge(I) obs: 0.651 / Mean I/σ(I) obs: 2.1 / Num. unique obs: 1138 / % possible all: 96
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.11.5
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: internal model 解像度: 1.76→33.39 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9382 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.9181 / SU R Cruickshank DPI: 0.133 / 交差検証法: THROUGHOUT / SU R Blow DPI: 0.143 / SU Rfree Blow DPI: 0.13 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.125