プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.92819 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.47→140.06 Å / Num. obs: 254599 / % possible obs: 100 % / 冗長度: 6.7 % / Net I/σ(I): 17.2
反射 シェル
解像度: 1.47→1.55 Å / Mean I/σ(I) obs: 2.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0158
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.47→88.66 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.978 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.971 / SU B: 2.985 / SU ML: 0.048 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.064 / ESU R Free: 0.059 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.17434
12794
5 %
RANDOM
Rwork
0.14056
-
-
-
obs
0.14226
241686
99.96 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK