プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.3→50 Å / Num. obs: 61571 / % possible obs: 96.7 % / 冗長度: 7.5 % / Biso Wilson estimate: 38.2 Å2 / Net I/σ(I): 34
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.3
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
MOLREP
位相決定
精密化
解像度: 2.3→38.58 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 201027.34 / Data cutoff low absF: 0 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 詳細: BULK SOLVENT MODEL USED
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.264
2850
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.212
-
-
-
obs
0.212
56294
88.4 %
-
溶媒の処理
Bsol: 30.9845 Å2 / ksol: 0.32 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso mean: 47.9 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
-1.41 Å2
-0 Å2
-0 Å2
2-
-
0.98 Å2
-0 Å2
3-
-
-
0.43 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.4 Å
0.31 Å
Luzzati d res low
-
5 Å
Luzzati sigma a
0.39 Å
0.29 Å
精密化ステップ
サイクル: 1 / 解像度: 2.3→38.58 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
9737
0
274
0
10011
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d
0.007
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg
1.3
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d
22.7
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d
1.6
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_mcbond_it
1.31
1.5
X-RAY DIFFRACTION
c_mcangle_it
2.15
2
X-RAY DIFFRACTION
c_scbond_it
1.93
2
X-RAY DIFFRACTION
c_scangle_it
2.86
2.5
LS精密化 シェル
解像度: 2.3→2.44 Å / Rfactor Rfree error: 0.017 / Total num. of bins used: 6