プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.98 Å / 相対比: 1
反射
Entry-ID: 5MSZ
解像度 (Å)
Num. obs
% possible obs (%)
冗長度 (%)
CC1/2
Rmerge(I) obs
Diffraction-ID
Net I/σ(I)
2-66.87
12665
100
54.1
0.998
0.122
1
44.3
1.1-56.87
72866
99.6
3.8
0.996
0.073
2
8
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
CC1/2
Diffraction-ID
% possible all
2-2.05
57
0.151
31.8
0.998
1
100
1.1-1.12
3.8
0.752
1.6
0.637
2
99.9
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0155
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
SHELXCD
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.1→56.87 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.98 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.978 / SU B: 0.949 / SU ML: 0.02 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.027 / ESU R Free: 0.028 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS